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TESCAN邀您参加2018低维碳纳米材料制备及应用技术交流会


来源:中国粉体网

[导读]  TESCAN邀您参加2018低维碳纳米材料制备及应用技术交流会

碳元素是自然界中存在的与人类最密切相关、最重要的元素之一,除了众所周知的金刚石、石墨之外,在纳米材料领域,富勒烯、碳纳米管和石墨烯等低维碳纳米材料,以及硅碳等复合材料,因其突出的力学、电学和化学性能在新材料领域的巨大的应用前景,引发了国内外持久的研究热潮,21世纪甚至被称为“碳世纪”。


但是,与科研领域的繁荣不同的是,低维碳纳米材料在产业化的道路上一直没有取得突破性的进展。如何实现此类材料的低成本制备,哪一个领域将是其实现大规模产业化的突破口,一直是科研人员及产业界人士探索的关键所在。


在此背景下,中国粉体网联合江苏省纳米技术产业创新中心、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,将于2018年4月24-25日在苏州金陵观园国际酒店举办 “2018低维碳纳米材料制备及应用技术交流会”,会议旨在共同探讨低维碳材料现阶段的发展中所面临的机遇和挑战,分享最新的研究成果,共同推动其产业化进程。作为微观分析领域前沿技术的创新者和实践者,TESCAN将出席此次技术交流会,分享TESCAN在低维碳纳米材料微观分析领域取得的技术突破!



2018低维碳纳米材料制备及应用技术交流会


公司介绍


TESCAN是一家专注于提供微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国企业,是全球知名的电子显微仪器制造商,总部位于全球最大的电镜制造基地-捷克布尔诺,目前已建立起全球的销售和服务网络,在捷克、法国和美国拥有4家研发中心、2个生产基地以及6家海外子公司,已有超过60年的电子显微镜研发和制造历史。其产品主要有电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜及相关分析附件和软件,正被广泛应用于各个领域。


作为科学仪器的全球供应商之一,TESCAN正为其在设计、研发和制造扫描电子显微镜及扫描电子显微镜在不同领域的应用方面树立良好的声誉和品牌。目前TESCAN的产品和解决方案已经在全球微纳米技术领域取得了领先的地位,首创了扫描电镜与拉曼共聚焦显微镜一体化技术(SEM-Raman)、双束电镜与飞行时间-二次离子质谱仪一体化技术(FIB-SEM-TOF-SIMS)以及氙等离子聚焦离子束技术(Xe Plasma FIB-SEM),是行业领域的技术领导者。TESCAN凭借优异的性能赢得全世界越来越多的用户认可,目前生产的各系列电镜在世界范围内受到广泛的好评,TESCAN的产品与技术正积极服务于全球客户。


产品介绍


TESCAN的全系列电镜产品,不仅仅是一个单一应用的微观分析工具,而是一个性能强大的综合性微观分析平台,拥有“All In One”的强大拓展分析功能,可以提供给用户一个全面的综合解决方案,能够在扫描电镜平台结合EDS、EBSD等分析技术、FIB技术以及TESCAN独家Raman、TOF-SIMS集成一体化技术,极大地拓展分析应用。接下来,主要简单介绍一下TESCAN公司独创的两款产品:TESCAN RISE扫描电镜-拉曼光谱(SEM-Raman)一体化系统和双束电镜-飞行时间二次离子质谱(FIB-SEM-TOF-SIMS)一体化系统。



RISE扫描电镜-拉曼光谱(SEM-Raman)一体化系统


RISE电镜-拉曼一体化系统是一款新颖的显微镜技术,在一个集成的显微镜系统中结合了共焦拉曼成像和扫描电子显微镜技术,这种独特的组合为显微镜用户对样品进行综合表征,提供了明显的优势。


扫描电子显微镜是一个很好的表征纳米范围内样品表面结构的可视化技术,而共焦拉曼成像是表征样品化学和分子组成的成熟光谱方法。RISE电镜-拉曼一体化系统还可以同时得到样品的2D、3D图像,以及样品中分子化合物组成的可视化分布结果。


TESCAN RISE电镜-拉曼一体化系统


RISE电镜-拉曼一体化系统通过实现原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以极大的拓展分析应用,在有机结构解析、碳结构解析、无机相鉴定、同分异构分析、结晶度分析等领域作出重大突破。目前,RISE电镜-拉曼一体化系统在地质、矿物晶体、高分子聚合物、医学、生命医药、宝玉石鉴定等领域均有了非常丰富的应用。


关于RISE显微镜在碳材料分析方面的应用案例,请点击:

https://mp.weixin.qq.com/s/jXO8js9LDVDcAKheTjqZTQ


双束扫描电镜-二次离子质谱(FIB-SEM-TOF-SIMS)一体化系统


TESCAN是第一个将TOF-SIMS和自己的SEM/FIB成功集成在一起,创新成为一体化系统的厂家。联用系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性,拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率,在对轻元素的探测、同位素检测、深度剖析和化学结构解析应用中具有很大的优势。


TESCAN是第一个将TOF-SIMS和自己的FIB-SEM成功集成在一起,拥有这项技术的公司,这项技术是用聚焦离子束(FIB)将试样剥离,产生带电离子或者中性粒子,采集带电离子作为TOF-SIMS的分析信号,实现对于轻元素、同位素、三维数据重构或者对薄膜深度方向的剖析和化学高分子试样的官能团等化学结构的解析。FIB-SEM-TOF-SIMS一体化系统的创新打破了EDS及WDS的分析局限性,拥有更灵敏的检出限和更好的空间分辨率,更加有利于实现三维快速成像,获得样品的综合全面信息。

集成在FIB-SEM上的TOF-SIMS


FIB—SEM—TOF-SIMS技术独特的优势



而正是因为TESCAN “All In One” 的创新产品设计理念,使得TESCAN的任何系统在接入EDS、WDS、RAMAN、TOF-SIMS等更多分析附件和设备时表现出更好的兼容性和更优异的性能,对于样品的进一步组合分析提供了很大的便利。


如果您对扫描电镜感兴趣或者有相关问题需要咨询

敬请关注“2018低纬碳纳米材料制备及应用技术交流会”与TESCAN工作人员现场交流



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