“2012 新机遇 新挑战”
颗粒特性分析技术讲座
颗粒特性分析技术讲座
邀请函
由美国贝克曼库尔特公司主办的、应用专家Matthew N Rhyner 博士主讲的“2012新机遇、新挑战---颗粒特性分析新技术讲座”将于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中国北京清华大学环境学院举行。诚邀各界人仕参加。 讲座内容：
☆颗粒特性分析技术概况
☆亚微米高分辨率PIDS专利技术
☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
☆ 库尔特颗粒计数分析技术
☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术
☆颗粒特性分析技术概况
☆亚微米高分辨率PIDS专利技术
☆干粉分散的“ 龙卷风”技术
☆ 库尔特颗粒计数分析技术
☆ 高浓度Zeta电位测量的FST透明电极技术
☆ 固体及薄膜表面ZETA电位测量技术
贝克曼库尔特商贸（中国）有限公司
2012年5月18 日
