又一项新合作,开发SiC晶圆加工新技术


来源:中国粉体网   空青

[导读]  国研院国仪中心与鼎极科技合作,开发雷射研磨技术,解决碳化硅(SiC)晶圆制程遇到的成本、效率与良率瓶颈。

中国粉体网讯  6月24日,据“经济日报”消息,国研院国仪中心与鼎极科技合作,开发雷射研磨技术,解决碳化硅(SiC)晶圆制程遇到的成本、效率与良率瓶颈,现将与安森美捷克厂合作,进行技术验证,从Beta-site测试开始,力拼试量产,并迈向量产阶段。



碳化硅(SiC)作为第三代半导体的代表,具有禁带宽度大、击穿电场高、饱和电子漂移速度高、导热率大等特点,在1200V的高压环境中优势明显。但碳化硅材料硬度高、脆性大、化学性质稳定,加工难度极大,传统研磨方式在加工效率及品质良率上皆存在瓶颈,不仅耗时、研磨损耗多,且因其采取机械性加工,会在晶圆的表面造成损伤,甚至导致整片晶圆破裂,严重影响晶圆良率,大幅提升制造成本。


国研院国仪中心携手鼎极科技开发雷射研磨技术,提升碳化硅晶圆所展示的样品

来源:国研院


此次,国家实验研究院国家仪器科技研究中心宣布与鼎极科技合作,共同开发红外线奈秒雷射应用于碳化硅晶圆研磨制程的关键技术。为了解决成本过高、不良率太高的难题,国研院国仪中心运用精密光学与先进雷射的研发能量,成功导入红外线奈秒级雷射系统,开发出专为碳化硅晶圆量产需求设计的雷射研磨技术


国仪中心指出,此技术可将每片晶圆的研磨时间从3小时缩短为2小时,且不会造成晶圆损伤,晶圆破片率可自5%降至1%,大幅提高产品良率。其次,该技术将减少研磨造成的晶圆损耗,显著降低维护成本,预计可减少前期晶圆制造超过10%的生产成本,后期晶圆后制程可再降低20%成本。此外,该技术可将碳化硅晶圆的硬度由原本约3000 HV(维氏硬度所用单位)降至60 HV,显着降低后续加工的时间和成本。


目前红外线奈秒雷射应用于碳化硅晶圆研磨制程的技术,已通过鼎极科技落地转化。同时,美国晶片制造商安森美半导体公司(ONSemiconductor Corp.)捷克厂适逢扩厂,鼎极科技将与之强强联手,从今年开始至2027年合作,进行技术验证,从Beta-site测试开始,力拼试量产、甚至量产。目前安森美已将晶圆运来中国台湾进行初步测试,Fine-tune(微调)之后就会将机台整机运到捷克,鼎极科技也规划在今年第4季于捷克设立服务中心,也盼将机台推广到欧洲。


国仪中心则指出,未来将与鼎极科技持续合作,推动此项技术商品化,并进一步扩展至8英寸碳化硅晶圆与多层异质结构元件的应用,也有机会应用于其他高硬度材料的精密加工,如氮化镓、陶瓷基板与先进封装材料。


来源:经济日报、工商时报


(中国粉体网编辑整理/空青)

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