中国粉体网讯 高纯氧化铝粉体具有普通氧化铝无法比拟的光、电、磁、热和机械性能，是配套航天航空、半导体、核能、新能源、冶金、生物医疗、照明、机械、化工等众多工程领域的重要新材料，是现代化工附加值最高、应用最广泛的高端材料之一。 在此背景下，中国粉体网将在山东淄博举办第三届全国高纯氧化铝粉体制备技术及应用交流大会，大会旨在搭建高纯氧化铝上下游技术交流、信息互通的沟通平台，促进我国高纯氧化铝行业技术与产业发展突破。
从2026第三届全国高纯氧化铝粉体制备技术及应用交流大会组委会获悉，本届会议将于2026年9月17日在山东淄博举办。上海敦祥工贸有限公司作为参展单位邀请您共同出席。
作为最常见的氧化物材料之一，氧化铝具备多种优良性能，包括良好的机械性能、热性能、结构多样性等，使其在陶瓷、耐火材料、研磨抛光、导热填料等诸多领域中有着不错的应用性和前景。不过在实际的工业生产中，即使同为氧化铝粉体，不同的生产厂家、不同的生产工艺及不同的生产设备所生产出的产品，其物理、化学性能指标也不尽相同，甚至会有较大差别。
氧化铝应用
以氧化铝陶瓷制品的生产为例，制备高分散性、高稳定性和高固含量的超细氧化铝粉体浆料关乎着产品的加工性能甚至是使用性能，是获得高质量坯体的关键，而氧化铝粉体的粒度大小、分布以及分散稳定性又会对浆料的质量产生较大影响。若氧化铝粉体的粒径越小，则表面积与表面能则较高，能够为陶瓷的致密化提供更大的驱动力，从而提高成品的致密度；但在另一方面，粉体的粒径越小，粉体颗粒在溶剂中的分散稳定性就越差，越容易发生团聚或沉降，往往需要采用更多的分散剂、粘结剂等添加剂包覆在颗粒表面，不仅会使浆料流动性变差，影响后续排胶过程，还会导致陶瓷烧结收缩率增加，烧结体密度减小。由此可见，在氧化铝粉末制品研发中，对氧化铝粉末的粒径及其分布和在液体中的分散稳定性（Zeta电位）等重要指标做出正确表征，并把握二者平衡至关重要。
为更好地指导粉体研发人员进行精确的颗粒检测，提高产品性能和质量管理，大塚电子（苏州）有限公司推出的ELSENEO系列ZETA电位·粒径测试系统采用了目前学术界和产业界公认的成熟可靠的粒度检测技术——动态光散射（DLS）技术，并使用高灵敏度的 APD雪崩光电二极管，通过观测散射光随时间的波动性得到颗粒布朗运动的速度，能够连续、精确地从稀薄到浓厚溶液(~40% )中获得颗粒的粒度和粒度分布，可测粒度范围广至0.1 ~ 10,000nm。
ZETA电位·粒径测试系统·ELSENEOSE
动态光散射法技术原理
而通过采用电泳光散射法，并结合电渗透测量和绘图分析，ELSENEO系列不仅能够将颗粒的电泳速度测量问题转化为散射光频移测量问题，精确测定溶液的Zeta电位，用于粉体的分散稳定性的表征，还可以用于确认测量数据内ZETA电位分布的再现性及判定杂质的波峰，在测量速度、统计精度和重现性方面都具有突出优势。
电泳光散射法测定原理
充分考虑电渗流后进行样品池内泳动速度的解析
电渗透流应用于多成分（杂质）解析
会务组
联系人：李先生
电话：15563675367
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