中国粉体网讯 2020年7月3日，由中国粉体网联合中国颗粒学会颗粒测试专委会、北京粉体技术协会共同举办的“粉体粒度表征及在线检测技术网络研讨会”成功召开，本次网络研讨会邀请来自上海理工大学的沈建琪教授作《颗粒测试技术的最新进展》报告。
在颗粒检测中，常用的颗粒检测方法有筛分法、沉降法（重力沉降、离心沉降）、电感应法、显微镜法、光散射法和超声法几种，其中光散射法因其较高的实用性和较好的检测效果受到广泛欢迎。本次报告，沈建琪教授主要从三个方面展开：一、散射式激光粒度仪的原理及应用；二、消光脉动法和消光脉动频谱法原理及应用；三颗粒检测技术与CCD成像技术的结合检测原理及应用。
根据散射光的应用原理粉体颗粒光散射法检测技术可以分为静态光散射和动态光散射两大类。静态光散射技术又可分为衍射法与角散射法、消光法，其中衍射法和角散射法利用散射光信号的空间分布特征而消光法利用透射光信号的频谱特征。动态光散射主要利用分子的热运动，根据形式不同可分为光子相关光谱法和图像动态光散射法。
在报告中，沈教授向我们深入浅出的介绍了散射式激光粒度仪的原理、发展与应用，并从原理出发介绍了影响散射式激光粒度仪检测效果的几点重要因素。其中，沈教授着重介绍了“散射式激光粒度仪粒径测量上下限”和“散射信号异常”两个核心问题并对激光粒度仪和筛分进行比较。
在讨论消光法与消光脉动法时，沈教授首先介绍了消光法与消光脉动法的诞生背景，之后又针对两种消光法的检测特点和原理进行深入的讲解和比较，同时针对两种方法的工业应用进行了举例与分析。
随着工业对颗粒检测效果的要求不断提高，颗粒检测技术也在不断推陈出新，其中颗粒测试技术与CCD成像结合是未来颗粒检测技术发展的大趋势，在报告中，沈教授结合研究前沿和工程实践，生动形象的介绍了当前流行的颗粒检测与CCD成像技术应用范例：数字全息成像法、干涉颗粒成像技术、彩虹成像。其中数字全息成像法利用“衍射光+参考光”成像，干涉颗粒成像技术则利用侧向散射光成像，而彩虹成像所利用的则是彩虹散射成像。
专家介绍
沈建琪，上海理工大学理学院教授、中国颗粒学会常务理事兼颗粒测试专委会副主任委员、中国计量测试学会多相流测试专委会副主任委员。主要从事光学学科的科研和教学工作，研究领域涉及电磁场和电磁波理论、颗粒和含颗粒两相流的光散射测试技术。先后承担了国家两机重大专项项目、国家自然科学基金项目和上海市人才专项等纵向项目，发表论文150多篇，参与撰写学术专著2本。
（中国粉体网编辑整理/江岸）
注：图片非商业用途，如侵权告知删除
