北京精微高博将参展第七届世界颗粒大会


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2014年5月19日,每四年一次的颗粒检测领域的行业盛会--第七届世界颗粒大会(WCPT-7)将在北京国际会议中心拉开帷幕。本次大会由中国颗粒学会、中科院过程工程研究所承办,中科院副院长、中国颗粒学会理事长李静海院士担任会议主席。预计本次会议的参会代表将达1000多人。


北京精微高博科学技术有限公司将届时参展,现场展示我公司最受客户欢迎的精密国产好仪器:研究级比表面及孔径测试仪(型号:JW-BK200B)、全自动真密度仪(型号:JW-M100)等物性测试仪器,诚邀广大从事颗粒学和颗粒技术研究与开发的专家学者、工程技术人员莅临现场参观!


精微高博(JWGB)展位号:32


会议时间:2014年5月19日—21日


会议地址:北京国家会议中心(北京市朝阳区天辰东路7号)


欲了解更多详情,请致电010-63326034 68949825 68949817


 


北京精微高博科学技术有限公司市场部 

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