荷兰飞纳推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。
第二代台式场发射电镜 Phenom Pharos G2 的分辨率提升至优于 1.8 nm，广泛用于半导体、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。
分辨率优于 1.8 nm
具有卓越的成像质量，是目前分辨率最高的台式扫描电镜。优于 1.8 nm 的分辨率，可以轻松获取样品的更多细节信息。
样品：金颗粒 放大倍数：50万倍
加速电压低至 1kV
新一代场发射系列低电压性能优异，加速电压范围向下调低至 1kV, 无需特殊制样，无需担心荷电，可减轻电子束对样品的损伤和穿透，更好地观测绝缘和电子束敏感的样品，可以最大程度地还原样品的真实形貌。
5 kV 充电严重 1 kV 充电消失
UI 界面全面升级
一切以图像为中心，用户界面全面升级，取消传统的能谱独立显示屏，将电镜、能谱、全景拼图等操作界面集成在 1 个 24 英寸显示屏上，为用户提供最佳的操作体验。无需切换即可使用实时能谱功能，在成像的同时，快速获取成分信息。
基本参数
· 灯丝材料：肖特基场发射灯丝
· 分辨率 ：优于 1.8nm
· 电子放大：最大 200 万倍
· 加速电压：1kV-20kV, 连续可调
· 内置 UPS（不间断电源）适配器
· 全面升级为新 UI：电镜、能谱等在同一界面
