作为粒度仪的专业生产厂商，岛津公司新推出了划时代的纳米颗粒测定仪器IG-1000，并在美国伊利诺斯州芝加哥市的迈考密展览中心召开的Pictton 2009（3月8日至3月13日）展会众多产品中脱颖而出，获得“撰稿人奖”铜奖。
与以往粒度测定仪器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是岛津公司开发的独一无二的纳米粒径测定技术。IG-1000采用介电电泳原理，由介电电泳力使粒子构成衍射光栅，扩散后的浓度降低导致衍射光强度降低，从衍射光强度的时间变化可以得到粒子的扩散系数，进而得到粒子的粒径。
与目前采用散射光的动态光散射仪器（DLS）方法相比较, 优势明显。测定范围最低到0.5nm，在单一纳米颗粒领域可以获得十分良好的信噪比(S/N)，灵敏度也非常高。即便样品中含有少量的粗大粒子时对测定也没有影响，分布广的样品可以得到正确的结果，克服了以往DLS产品耐污染性差的缺点。IG-1000不使用散射光，因此不受物理参数的限制，不要求输入折射率因子(refractive index)作为测量条件。原始数据（衍射光强度对时间的变化）可以用来进行测定结果的可靠性验证。
与岛津多种型号的激光粒度仪联合使用，实现了从纳米到微米范围的可靠测定。
与以往粒度测定仪器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是岛津公司开发的独一无二的纳米粒径测定技术。IG-1000采用介电电泳原理，由介电电泳力使粒子构成衍射光栅，扩散后的浓度降低导致衍射光强度降低，从衍射光强度的时间变化可以得到粒子的扩散系数，进而得到粒子的粒径。
与目前采用散射光的动态光散射仪器（DLS）方法相比较, 优势明显。测定范围最低到0.5nm，在单一纳米颗粒领域可以获得十分良好的信噪比(S/N)，灵敏度也非常高。即便样品中含有少量的粗大粒子时对测定也没有影响，分布广的样品可以得到正确的结果，克服了以往DLS产品耐污染性差的缺点。IG-1000不使用散射光，因此不受物理参数的限制，不要求输入折射率因子(refractive index)作为测量条件。原始数据（衍射光强度对时间的变化）可以用来进行测定结果的可靠性验证。
与岛津多种型号的激光粒度仪联合使用，实现了从纳米到微米范围的可靠测定。
