中国粉体网讯 随着新能源汽车、5G、人工智能、物联网等行业的蓬勃发展，以碳化硅、氮化镓为代表的第三代宽禁带半导体材料产业规模不断扩大，先进陶瓷在半导体行业将迎来更大的应用市场。
从第一届半导体行业用陶瓷材料技术研讨会组委会获悉，本届会议将于2022年7月13日在济南举办。北京欧波同光学技术有限公司作为参展单位邀请您共同出席。
北京欧波同光学技术有限公司成立于2003年，是一家材料分析数字化解决方案服务商。在持续发展的过程中，欧波同集团始终坚持“让实验更简单”的发展主线，不断完善在工业领域能够提供的多样技术服务。欧波同始终坚持以技术服务为宗旨，不断发展成为工业分析行业的技术型企业。旗下拥有科学仪器销售、智慧实验室解决方案、第三方检测服务、技术服务等业务板块。 在我国科研领域发展的关键时期，欧波同充分利用互联网大数据概念，通过持续的科研投入，掌握计算机视觉和图像识别技术，实现AI技术和工业分析技术的跨界融合，加快工业分析领域的场景化发展进程。
产品介绍
1、Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜
新一代Axia ChemiSEM扫描电镜，可进行样品成分信息的采集、处理和展示；依托先进镜筒技术，保持系统始终处于稳定状态。
新一代Axia ChemiSEM扫描电镜，可进行样品成分信息的采集、处理和展示；依托先进镜筒技术，保持系统始终处于稳定状态，可ju焦样品采集数据，提供高质量图像；采用全开门式设计，耐用性和灵活性更高；可搭载多款扫描电镜软件实现多种自动化功能；简约化设计，全方面性能出色，可表征各种不同类型材料，提供全面的信息。其成像平台即时可用，集成实时定量能谱面分析功能，成像即刻并融合成分信息，专为快速分析而设计，操作轻松自如。
产品参数
发射源：预对中钨灯丝
分辨率：
3.0nm@ 30kV（SE）；8.0 nm@ 3kV（SE）
放大倍数：5 ~ 1,000,000×（宝丽来相纸放大）
加速电压范围：200V ~ 30kV
探针电流范围：可达到2μA，连续可调
X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角：35°
样品室：内宽280mm，端口10个
样品台：五轴全自动马达驱动
☆ X=120 mm,
☆ Y=120 mm,
☆ Z=55 mm,
☆ T=-15o~90o,
☆ R=360o （连续旋转）
☆ 承重 10 kg
探测器系统：
☆ 高真空二次电子探测器ETD
☆ 可伸缩式背散射探测器BSED
☆ 样品室内红外相机CCD
☆ 图像导航彩色光学相机Nav-Cam+™
☆ 具有ChemiSEM技术的TrueSight X EDS 探测器
控制系统：
☆ 操作系统：Windows 10
☆ 图像显示：24寸LCD显示器，高显示分辨率1920×1200
☆ 支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像
☆ 软件支持Undo和Redo功能
实时成分信息：同步扫描获取多种信号时执行能谱分析，实时检测形貌与元素信息；
成像平台即时可用：只需关注数据采集，不必忧虑电镜条件设置；
快速获得数据：多种成像和扫描策略，优化图像采集效果并提升系统处理能力；
灵活的样品台设计：全开门式设计，大样品可轻松加载到样品仓内，10 kg；
成像性能：提供低真空模式和电子束减速模式用于消除荷电效应。
2、Apreo 2 超高分辨场发射扫描电镜
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，采用了创新性的末级透镜设计，引入静电式末级透镜，支持镜筒内高分辨率检测，即使是针对磁性样品也可实现ji佳成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础上，新一步优化了高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（zhi能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚 焦矫正。此外，Apreo 2 SEM可以在10mm分析工作距离下具有1nm分辨率的SEM，远的工作距离不再意味着低分辨成像，系统还可 升 级实时元素谱/图成像功能，颠覆了几十年来传统SEM-EDS固有的元素分析流程，将元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM，任何用户都可以轻松地得到 优 质的分析效果。
产品参数
发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪
分辨率：
加速电压范围：200 V ~ 30 kV
着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV
探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）
最 大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于 最 低放大倍率29倍）
X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°
样品室：从左至右为340mm宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3（其中2个处于180°对角位置）
样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）
多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12mm）
探测器系统：
样品室二次电子探测器ETD
镜筒内背散射电子探测器T1
镜筒内二次电子探测器T2
镜筒内二次电子探测器T3（选配）
样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）
图像导航彩色光学相机Nav-Cam+™
样品室低真空二次电子探测器（选配）
可伸缩透镜下背散射探测器（选配）
控制系统：
操作系统：Windows 10
图像显示：24寸LCD显示器，最 高显示分辨率1920×1200
支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像
软件支持Undo和Redo功能
☆ 全面解析
全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料；
☆ 极佳的灵活性
非常灵活的处理范围广泛的样品类型，包括绝缘体，敏感材料，或磁性样品，并收集对您的应用重要的数据；
☆ SmartAlign技术
使用SmartAlign技术(智 能调整光学系统)，实现光学系统自动调整，减少维护时间；
☆ 先进的自动化
先进的自动化包括FLASH自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH技术；
☆ 实时定量EDS
元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便；
☆ 标准工作流操作
内置了User Guidance（用户工作流）功能，无论是初学者还是经验丰富，都能够快速上手，并稳定获取实验数据。
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会务组
联系人：翟经理
电话：18669588168（同微信）
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