9月22日至24日，由美国食品药品管理局（FDA）与复杂仿制药研究中心（CRCG）联合举办的“掌握颗粒粒度分析：技术与最佳实践的逐步解析”研讨会在美国马里兰州Shady Grove大学顺利召开。作为制药领域颗粒分析的重要会议，本次研讨会仅邀请7家国际领先的颗粒分析仪器制造商参与，聚焦制药研发与质量控制中的关键技术议题。百特仪器作为唯一受邀的中国制造商，在会议上展示了在颗粒表征领域的技术实力与创新成果。
百特美国团队的两位专家在会议上发表了专题报告：Kiwan Park分享了《为何将激光衍射与图像分析结合，正在成为颗粒表征的新标准》，Matthew McGann则围绕《DLS、SLS与ELS技术数据质量研究》展开深入解析。两场报告内容详实、视角前沿，不仅受到现场专家的高度关注，也充分展现了百特在微米级和纳米级颗粒表征方面的技术积累与应用能力。
会议期间，百特与来自FDA、全球知名制药企业及科研机构的专家进行了深入交流，共同探讨制药领域颗粒分析的前沿趋势与实践经验。通过此次参会，百特进一步提升了在国际制药领域的影响力，也让更多行业伙伴认识到中国仪器制造企业的创新能力。
百特衷心感谢FDA与CRCG对本次研讨会的精心组织，也感谢每一位与会嘉宾的积极参与和热烈交流。未来，百特将继续秉持“持续创新、精益求精”的理念，为全球科研及制药行业提供更精准、更可靠的颗粒分析解决方案。
