Microtrac MRB颗粒表征方法的技术研讨会将在西安举行

Microtrac MRB将联合旗下麦奇克激光粒度粒形分析仪，拜尔比表面及孔隙度分析仪和化学吸附仪，麦奇克莱驰多功能粒度粒形分析仪，首次在中国西安举办“颗粒表征方法的技术研讨会”。

本次会议将于2021年5月19日在西安举行，届时将由应用专家与大家共同探讨颗粒表征分析技术及应用。

Microtrac MRB：作为一个颗粒表征解决方案的供应商，提供三条产品线，在三大洲拥有研发和技术中心。

散射光分折: Microtrac MRB作为粒度测量的通用方法—静态激光衍射法的领导者，还提供完美的动态光散射纳米粒度仪，用于纳米颗粒的表征。该产品线的开发和生产地点位于美国的宾夕法尼亚州。

图像分析: Microtrac MRB基于动态图像分析技术，为颗粒大小和形态的测定提供了高质量的CAMSIZER系列和PartAn系列测量系统。这些图像分析仪的开发和生产地点位于德国的哈恩。

比表面和孔径测量: Microtrac MRB的另外一条产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。

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