《Nano Letters》:量子点缺陷结构可实现电子材料功能改进


来源:新材料在线

[导读]  近日,威斯康星大学(University of Wisconsin,UW)的研究人员发现了微小电子设备中未知的量子点缺陷,为改进计算机、激光器或光学设备提供了新思路。

中国粉体网讯  近日,威斯康星大学(University of Wisconsin,UW)的研究人员发现了微小电子设备中未知的量子点缺陷,为改进计算机、激光器或光学设备提供了新思路。该研究成果已发表在Nano Letters杂志上。  




威斯康星大学麦迪逊分校材料科学与工程教授Paul Evans表示:“我们现在可以看到以前人们看不到的结构,从而能够帮助我们解决材料关键问题。”    


该研究团队发现的结构比单张纸薄几千倍,小于单个人体细胞。在这些结构中,量子点形成非常薄的晶体材料堆栈,顶部排列成扁平与细丝状。  


然而,在微小的空间内构建精确的结构是技术上的难题。该成果的合作者荷兰代尔夫特理工大学致力于研究晶体堆栈结构。  


该论文的第一作者Evans小组的博士后研究员Anastasios Pateras称:“以前的成像方法和建模无法在这么小的尺度上对量子点器件进行结构化表征。”  


该研究团队通过制定一种使用非常紧密聚焦的X射线束,来表征量子点器件,观察到量子点内原子层的间距和取向的变化。  


该团队的发现表明,可通过在生长的晶体上铺设金属电极,使稍微扭曲材料,创建量子点。  


目前,研究人员现在正在开发一种算法,可以根据X射线散射模式自动显示晶体中的原子位置。此外,他们还正在探索这些技术如何为其他复杂结构提供研究。   (粉体网编辑整理/土豆儿)

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