2019-08-13
来源：美国麦克仪器公司
材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举办《颗粒、粉体、膜（P3）的分析与表征技术研讨会》，分享国际领先的材料表征技术及实际应用，为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会！
时间：2019年9月19日全天
地点：上海大华锦绣假日酒店
费用：免费
内容：
颗粒、粉体、膜的特性与综述；
颗粒粒度分析：电阻法，X沉降法与亚筛分法
颗粒形态分析：动态图像法
颗粒粉体分析的样品制备：取样，缩样与分散
孔径分析：气液与液液孔径分析方法
粉体流动性分析
咨询电话：021-51085884-807
报名网址：https://yoopay.cn/event/14505286
研讨会主要主讲人：
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