2012年10月17日-19日,由中国颗粒学会(CSP)、纽伦堡会展服务(上海)有限公司、上海环球展览有限公司共同合作主办的第十届中国国际粉体加工/散装输送展览会暨会议(IPB 2012)在上海国际展览中心成功举办。IPB是中国颗粒学会唯一主办的粉体/ 散装行业展览会,是引领新兴的粉体行业发展的盛宴。
IPB展示内容含概材料改性工业的整个加工流程,关注各种行业中混合,输送,粉碎,筛分和颗粒制备技术,不仅运用于化工、制药、食品工业的处理,更广泛应用于颜料染料,包装,采石,建筑,陶瓷等领域。
美国贝克曼库尔特有限公司现场展位
此次展会,贝克曼库尔特携公司诸多产品盛装出席,主推产品包括Multisizer 3库尔特粒度分析计数仪、DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪、LS 13 320激光粒度分析仪等,吸引了众多客户驻足观看、交流。
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪适用医药品,食品饮料,蛋白质,生物工程,配方 稳定性,墨水,油墨,半导体,固液界面电位等的测试。
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪
技术特点:
- 可选传统的前散射或最先进背散设粒度测量
- 可选检测器前置光圈加强精度与分辨率
- 可选对数或线性相关仪针对多种不同分散度样品
- 可选特强电场针对难度高样品
- 可选测量温度低至5度
- 30mW激光源为标准规格
- 备石英,塑料一次性,毛细管和高浓度样品池
- 多点测量Zeta电位分布加强精度
- 分析过程实时报读粒度和粒度变化趋势
- 粒度与Zeta电位均以平均值和分布图/列表表达
- 全自动SOP操作模式可供连续测量多个SOP
- Zeta电位测量同时测量液体导电率
- 提供专业分散剂辅助纳米分散
贝克曼库尔特公司对颗粒特性的研究始于上世纪的四十年代,一直专注于颗粒分析的研究开发与应用。其颗粒特性分析仪器已经成为当今全球最具竞争力和独当一面的表征颗粒特性的产品!无论是对粒度的分析,还是颗粒的计数;无论是在微米-亚微米范围的测量,还是在纳米尺度内的测量;既拥有应用库尔特原理的产品,同时也拥有应用激光衍射散射原理以及动态光散射原理的产品,使贝克曼库尔特公司成为粒度分析同业的翘楚!
欲了解更多,点击进入该公司展位>>
IPB展示内容含概材料改性工业的整个加工流程,关注各种行业中混合,输送,粉碎,筛分和颗粒制备技术,不仅运用于化工、制药、食品工业的处理,更广泛应用于颜料染料,包装,采石,建筑,陶瓷等领域。
美国贝克曼库尔特有限公司现场展位
此次展会,贝克曼库尔特携公司诸多产品盛装出席,主推产品包括Multisizer 3库尔特粒度分析计数仪、DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪、LS 13 320激光粒度分析仪等,吸引了众多客户驻足观看、交流。
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪适用医药品,食品饮料,蛋白质,生物工程,配方 稳定性,墨水,油墨,半导体,固液界面电位等的测试。
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪
技术特点:
- 可选传统的前散射或最先进背散设粒度测量
- 可选检测器前置光圈加强精度与分辨率
- 可选对数或线性相关仪针对多种不同分散度样品
- 可选特强电场针对难度高样品
- 可选测量温度低至5度
- 30mW激光源为标准规格
- 备石英,塑料一次性,毛细管和高浓度样品池
- 多点测量Zeta电位分布加强精度
- 分析过程实时报读粒度和粒度变化趋势
- 粒度与Zeta电位均以平均值和分布图/列表表达
- 全自动SOP操作模式可供连续测量多个SOP
- Zeta电位测量同时测量液体导电率
- 提供专业分散剂辅助纳米分散
贝克曼库尔特公司对颗粒特性的研究始于上世纪的四十年代,一直专注于颗粒分析的研究开发与应用。其颗粒特性分析仪器已经成为当今全球最具竞争力和独当一面的表征颗粒特性的产品!无论是对粒度的分析,还是颗粒的计数;无论是在微米-亚微米范围的测量,还是在纳米尺度内的测量;既拥有应用库尔特原理的产品,同时也拥有应用激光衍射散射原理以及动态光散射原理的产品,使贝克曼库尔特公司成为粒度分析同业的翘楚!
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